加工事例

半導体導通試験用アルミプレート治具

加工のポイント

半導体の導通試験で用いるアルミ製のプレート治具です。
お客様より「従来まで樹脂製プレートで導通試験を行っていたが、耐久性や微細孔の加工が難しい点から金属製への切り替えたい」とのご依頼をいただきました。
左右の枠の中央に微細穴を加工しており、穴にプローブを指して検査を行います。
表と裏で穴径が異なり（0.33mm / 0.41mm）、なおかつ小さいため、当社の微細穴加工技術が活きた製品となります。
土台を絶縁する必要があるため、アルマイト処理も行いました。
※写真はアルマイト前のものとなります。